Wbudowana drukarka Tester grubości suchej warstwy farby Elcometer Miernik grubości powłoki TG110
TG110 mierzy grubość materiałów niemagnetycznych (np. farby, plastiku, emalii porcelanowej, miedzi, cynku, aluminium, chromu itp.) na materiałach magnetycznych (np. żelazo, nikiel itp.).często używany do pomiaru grubości warstwy galwanicznej, warstwy lakieru, warstwy emalii porcelanowej, warstwy fosforowej, płytki miedzianej, płytki aluminiowej, niektórych płytek stopowych, papieru itp.
Miernik przyjmuje dwie metody pomiaru grubości: metodę indukcji magnetycznej i metodę prądów wirowych.
Metoda indukcji magnetycznej: Sonda i metalowe podłoże magnetyczne utworzą zamknięty obwód magnetyczny, gdy sonda zetknie się z powłoką;Rezystancja magnetyczna zamkniętego obwodu magnetycznego zmienia się ze względu na istnienie powłoki niemagnetycznej.Grubość powłoki można zmierzyć poprzez zmianę oporu magnetycznego.
Metoda prądów wirowych: prąd przemienny o wysokiej częstotliwości wytwarza pole elektromagnetyczne w cewce sondy;Prąd wirowy będzie powstawał na metalowym podłożu, gdy sonda zetknie się z powłoką, a prąd wirowy będzie miał efekt sprzężenia zwrotnego na cewce w sondzie.Grubość powłoki można obliczyć, mierząc efekt sprzężenia zwrotnego.
Zakres zastosowań jest wskazywany przez dostępne sondy.
Sondy -F działają na zasadzie indukcji magnetycznej i powinny być stosowane do powłok niemagnetycznych, takich jak aluminium, chrom, miedź, cynk, farby i lakiery, emalia, guma itp., na podłożu żelaznym lub stalowym;nadają się również do stopowej i hartowanej stali magnetycznej.
- sondy N działają na zasadzie prądów wirowych i powinny być stosowane do izolowania powłok na wszystkich metalach nieżelaznych oraz na austenitycznych stalach nierdzewnych, np. farbach, powłokach anodowych, ceramice itp. nakładanych na aluminium, miedź, odlewy cynkowe, mosiądz itp.
Załącznik tabela 1 Parametry techniczne
Typ sondy | F | n | |
Zasada pomiaru | Indukcja magnetyczna | Prąd wirowy | |
Skala | 0~1500 um | 0~1500 um | |
Rozdzielczość niskiego zakresu | 0,1 um | 0,1 um | |
Dokładność | Kalibracja zera | ±(2%H+1) um | ±(2%H+1) um |
Kalibracja dwupunktowa | ±[(1~2)%H+1]um | ±[(1~2)%H+1]um | |
Warunki pomiaru | Min.promień krzywizny | Cx.1,5 mm | Cx.3 mm |
Min.promień obszaru | Φ7 mm | Φ5 mm | |
Grubość krytyczna płyty | 0,5 mm | 0,3 mm |
Załącznik, tabela 2 Odniesienie do wyboru sondy
Powłoka
Talerz | Niemagnetyczna powłoka materiału organicznego (takich jak: farba, emalia, plastik, anodowanie itp.) | Niemagnetyczna powłoka z metali nieżelaznych (takich jak: chrom, cynk, aluminium, miedź, cyna, srebro itp.) |
Metale magnetyczne, takie jak żelazo i stal | Sonda typu F Zakres pomiaru: 0 μm (1500 μm) | Sonda typu F Zakres pomiaru: 0 μm (1500 μm) |
Metale nieżelazne, takie jak miedź, aluminium, mosiądz, cynk, cyna itp. | Sonda typu N Zakres pomiaru: 0 μm (1500 μm) | Sonda typu N Zakres pomiaru: 0μm~40μm (tylko dla chromu na miedzi) |
Tabela 1-1 Konfiguracja
Przedmiot | Ilość | Uwagi |
Jednostka główna TG110 | 1 | |
Sonda | 1 | F lub N lub FN |
Folie kalibracyjne | 5 szt. | |
Zerowa płyta | 1 | Żelazo lub aluminium |
Bateria | 1 | CR123A, 3V |
Instrukcja obsługi | 1 | |
Certyfikat | 1 | |
Karta gwarancyjna | 1 | |
Przesyłanie opinii | 1 |