Opis:
Z wbudowaną lub oddzielną sondą(ami)
Funkcja: TG-2000F (podłoże żelazne) TG-2000N (podłoże nieżelazne) TG-2000FN (2 w 1, typ F i NF)
Zasada działania: indukcja magnetyczna/prąd wirowy (F/NF)
Zakres pomiarowy: 0-2000um/0-50mil
Rezolucja;0,1/1
Dokładność: ± 1-3%n lub ± 2,5um
Min.obszar pomiarowy: 6mm
Min.grubość próbki: 0,3 mm
Wskaźnik baterii: wskaźnik niskiego poziomu baterii
Metryczne/calowe: kabriolet
Zasilanie: bateria 4x1,5 V AAA (UM-4);
Automatyczny wyłącznik
Warunki pracy: 0-+ 45 ℃ (32 ℉-104 ℉), ≤ 90% RH
Wymiary: 126x65x27mm
waga: 81g (bez baterii)
Akcesoria opcjonalne: inny zakres 0-200um do 15000um
Podanie:
1. TG-2000F może mierzyć grubość warstw powłoki niemagnetycznej (aluminium, chrom, miedź, emalia1, guma, farba) na podłożu magnetycznym (stal, żelazo, stop i magnetyczna stal nierdzewna)
2. TG-2000N umożliwia pomiar grubości warstw powłok nieprzewodzących (emalia1, guma, farba, lakier, plastikowa warstwa tlenku anodowego) pokrytych na podłożach nieżelaznych (aluminium, mosiądz, cynk, cyna i niemagnetyczna stal nierdzewna)
Dostawa standardowa TG2000FN:
Jednostka główna (2000um) 1
Sonda typu F 1
Sonda typu N 1
F baza kalibracyjna zestaw 1
Zestaw baz kalibracyjnych N 1
Zestaw folii kalibracyjnych 1 zestaw (4 folie)
Walizka transportowa 1
Instrukcja obsługi 1
akcesoria opcjonalne
Kabel i oprogramowanie dla RS-232C
Dostosowany zakres testowy do 18000 mikronów